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journalStr:"Semiconductor science and technology"
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PubPharm (3)
1
The effect of an interfacial layer on the relaxation of CdMnTe-CdTe multiple quantum well structures on InSb substrates
enthalten in:
Semiconductor science and technology
| 1998
von
Li, C.
|
Tanner, B.
|
Ashenford, D.
| +2
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2
Determination of the critical thickness of misfit dislocation multiplication using in situ double-crystal x-ray diffraction
enthalten in:
Semiconductor science and technology
| 1996
von
Möck, P.
|
Tanner, B.
|
Li, C.
| +6
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3
Determination of the critical thickness of misfit dislocation multiplication using in situ double-crystal x-ray diffraction
enthalten in:
Semiconductor science and technology
| 1996
von
Möck, P.
|
Tanner, B.
|
Li, C.
| +6
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Zeitschrift: Semiconductor science and technology
Medienart
3
Aufsätze
3
Gedruckte Aufsätze
Zeitschriftentitel
Semiconductor science and technology
Erscheinungszeitraum
1
1998
2
1996
Erscheinungsjahr(e)
Von:
Bis:
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