A spectroscopic method for the evaluation of surface passivation treatments on metal–oxide–semiconductor structures

Medienart:

Artikel

Erscheinungsjahr:

2014

Erschienen:

2014

Enthalten in:

Zur Gesamtaufnahme - volume:301

Enthalten in:

Applied surface science - 301(2014) vom: 15. Mai, Seite 40-45

Beteiligte Personen:

Walsh, Lee A. [VerfasserIn]
Hurley, Paul K. [Sonstige Person]
Lin, Jun [Sonstige Person]
Cockayne, Eric [Sonstige Person]
O’Regan, T.P. [Sonstige Person]
Woicik, Joseph C. [Sonstige Person]
Hughes, Greg [Sonstige Person]

Umfang:

6

Förderinstitution / Projekttitel:

PPN (Katalog-ID):

OLC1940191416