Details der Publikation - Microstructure and electrical characterization based on AFM of very high-doped polysilicon grains

Medienart:	Artikel

Erscheinungsjahr:	2007
Erschienen:	2007

Enthalten in:	Zur Gesamtaufnahme - volume:253
Enthalten in:	Applied surface science - 253(2007), 14, Seite 6006-6012

Beteiligte Personen:	Coq Germanicus, R. [VerfasserIn] Picard, E. [Sonstige Person] Domenges, B. [Sonstige Person] Danilo, K. [Sonstige Person] Rogel, R. [Sonstige Person]

Umfang:	7

Förderinstitution / Projekttitel:

PPN (Katalog-ID):	OLC1767580436


LEADER	01000caa a22002652 4500
001	OLC1767580436
003	DE-627
005	20230710033908.0
007	tu
008	070425s2007 xx \|\|\|\|\| 00\| \|\|und c
028	5	2	\|a sw070425
035			\|a (DE-627)OLC1767580436
035			\|a (DE-599)GBVOLC1767580436
040			\|a DE-627 \|b ger \|c DE-627 \|e rakwb
082	0	4	\|a 670 \|a 530 \|a 660
100	1		\|a Coq Germanicus, R. \|e verfasserin \|4 aut
245	1	0	\|a Microstructure and electrical characterization based on AFM of very high-doped polysilicon grains
264		1	\|c 2007
300			\|a 7
336			\|a Text \|b txt \|2 rdacontent
337			\|a ohne Hilfsmittel zu benutzen \|b n \|2 rdamedia
338			\|a Band \|b nc \|2 rdacarrier
700	1		\|a Picard, E. \|4 oth
700	1		\|a Domenges, B. \|4 oth
700	1		\|a Danilo, K. \|4 oth
700	1		\|a Rogel, R. \|4 oth
773	0	8	\|i Enthalten in \|t Applied surface science \|d Amsterdam [u.a.] : Elsevier, 1985 \|g 253(2007), 14, Seite 6006-6012 \|w (DE-627)129187496 \|w (DE-600)52886-9 \|w (DE-576)014456311 \|x 0169-4332 \|7 nnns
773	1	8	\|g volume:253 \|g year:2007 \|g number:14 \|g pages:6006-6012 \|g extent:7
912			\|a GBV_USEFLAG_A
912			\|a SYSFLAG_A
912			\|a GBV_OLC
912			\|a SSG-OLC-TEC
912			\|a SSG-OLC-PHY
912			\|a SSG-OLC-CHE
912			\|a SSG-OLC-PHA
912			\|a SSG-OLC-DE-84
912			\|a GBV_ILN_24
912			\|a GBV_ILN_32
912			\|a GBV_ILN_40
912			\|a GBV_ILN_65
912			\|a GBV_ILN_70
912			\|a GBV_ILN_2006
951			\|a AR
952			\|d 253 \|j 2007 \|e 14 \|h 6006-6012 \|g 7