Vorrichtung zum Vermessen oder Bearbeiten von Objekten, Verfahren zum Betreiben

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (1) zur Vermessung und/oder Bearbeitung von Objekt (7), insbesondere Rasterkraftmikroskop, mit einem Objektträger (6), auf welchem ein Objekt (7) anordenbar ist, mit einem dem Objektträger (6) zugeordneten Arbeitskopf (9) zum Messen oder Bearbeiten des Objekts (7) und mit einem Gestell (2), das einen den Objektträger (6) tragenden Tragelement, insbesondere Tisch (3), und einen den Arbeitskopf (9) haltenden Arm (4) aufweist. Es ist vorgesehen, dass dem Objektträger (6) mehrere individuell betätigbare und verteilt angeordnete Spanneinrichtungen (12) zugeordnet sind, wobei die jeweilige Spanneinrichtung (12) dazu ausgebildet ist, den Objektträger in Abhängigkeit von einem Schwingungsverhalten des Objektträgers (6), des Objekts (7) und/oder des Arbeitskopfs (9) mit einer vorgegebenen Kraft zur lokalen Versteifung zu verspannen, um eine Relativschwingungen von Arbeitskopf (9) und Objekt (7) zueinander minimierende lokale Versteifung des Objektträgers (6) zu bewirken..

Medienart:

Patent

Erscheinungsjahr:

2024

Erschienen:

2024

Enthalten in:

Europäisches Patentamt - (2024) vom: 04. Apr. Zur Gesamtaufnahme - year:2024

Sprache:

Deutsch

Beteiligte Personen:

WOERLE THOMAS [VerfasserIn]
HENKEL NILS [VerfasserIn]
LOEDIGE MAXIMILIAN [VerfasserIn]

Links:

Volltext [kostenfrei]

Themen:

Sonstige Themen:
615
B82Y: Specific uses or applications of nanostructures; me (...)
G01B: Measuring length, thickness or similar linear dimen (...)
G01Q: Scanning-probe techniques or apparatus; application (...)
phy
tec

Anmerkungen:

Source: www.epo.org (no modifications made), First posted: 2024-04-04, Last update posted on www.tib.eu: 2024-04-15, Last updated: 2024-04-19

Patentnummer:

DE102022210368

Förderinstitution / Projekttitel:

PPN (Katalog-ID):

EPA00337193X